2 402 202 книги
Поиск
Жанры
Книги
Категории и жанры
Лучшие книги
Библиотека
Помощь
Мобильная версия
Контакты
Как помочь?
libcats.org
Самая большая
электронная библиотека
рунета. Поиск книг и журналов
↓
Только точные совпадения
Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings)
Автор:
David G. Seiler
, Автор:
Alain C. Diebold
, Автор:
Thomas J. Shaffner
, Автор:
Robert McDonald
, Автор:
W. Murray Bullis
, Автор:
Patrick J. Smith
, Автор:
Erik M. Secula
Размер книги: 5.67 Mb